Focus On Microscopy 2016(FOM 2016)是一次顯微技術(shù)的年度會(huì)議。該會(huì)議不僅展示的顯微技術(shù),而且還展示這些新技術(shù)在生物、醫(yī)藥和材料科學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用。
會(huì)議時(shí)間:2016 年 3 月 20 日 - 23 日
會(huì)議地點(diǎn):國(guó)立中國(guó)臺(tái)灣大學(xué)醫(yī)學(xué)院附設(shè)醫(yī)院
此次飛納臺(tái)式電鏡參加 FOM 2016,將在會(huì)上展示飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 和飛納臺(tái)式整合光電關(guān)聯(lián)顯微鏡 Delphi 德飛。
2015 年,飛納電鏡制造商荷蘭 Phenom-World 正式推出兩款性能的臺(tái)式電鏡,飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 和飛納臺(tái)式整合光電關(guān)聯(lián)顯微鏡 Delphi 德飛。新產(chǎn)品繼承了飛納臺(tái)式掃描電鏡*優(yōu)勢(shì),例如采用高亮度的 CeB6 燈絲,顯著提升電鏡分辨率;快速抽真空;快速成像;彩色光學(xué)導(dǎo)航;全自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái)等。
同時(shí)拓展了其他功能,例如飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 電鏡腔室為 100 mm X 100 mm,一次可容納至少 36 個(gè) 1/2 英寸樣品臺(tái);提供高、中、低三級(jí)真空,標(biāo)配高靈敏度四分割背散射電子探測(cè)器,可以選配二次電子探測(cè)器。
飛納臺(tái)式整合光電關(guān)聯(lián)顯微鏡 Delphi 德飛通過(guò)熒光快速定位,電鏡高倍觀察,并在熒光圖像中疊加掃描電鏡圖像,實(shí)現(xiàn)在一張圖像中同時(shí)獲得樣品精細(xì)結(jié)構(gòu)和功能物質(zhì)信息。飛納臺(tái)式整合光電關(guān)聯(lián)顯微鏡 Delphi 德飛采用對(duì)射光路結(jié)構(gòu),無(wú)需轉(zhuǎn)移樣品,運(yùn)用的圖像自動(dòng)疊加,關(guān)聯(lián)。從樣品裝載到獲取光電關(guān)聯(lián)圖像的時(shí)間小于 3 分鐘。傳統(tǒng)的關(guān)聯(lián)技術(shù)是通過(guò)兩臺(tái)顯微鏡來(lái)實(shí)現(xiàn)的,德飛將兩種顯微鏡的功能集成到一臺(tái)顯微鏡中。
飛納臺(tái)式電鏡預(yù)祝 Focus On Microscopy 2016(FOM 2016)取得圓滿(mǎn)成功!
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