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在粉體工業(yè)領(lǐng)域中，粉體表面的包覆改性工藝是提升產(chǎn)品使用性能的重要方法，對(duì)于粉體改性來(lái)說(shuō)，包覆率是關(guān)鍵的參數(shù)，但目前主要采用間接考察和檢測(cè)的方法獲得，主要方法如下：

采用掃描電鏡結(jié)合能譜的方式。包覆與否的顆粒表面元素種類及含量是不一樣的，因此可以通過(guò)該方式觀察樣品包覆情況，但是其缺點(diǎn)是無(wú)法自動(dòng)統(tǒng)計(jì)，只能觀察微小區(qū)域的顆粒，結(jié)果較為片面；

采用熱重分析方法。比如硬脂酸包覆碳酸鈣，如果硬脂酸跟碳酸鈣只是普通的物理混合，那么熱重分析只有兩個(gè)峰，一旦硬脂酸跟碳酸鈣有作用，他的分解溫度就會(huì)發(fā)生變化，可能就會(huì)出現(xiàn)三個(gè)峰，一個(gè)碳酸鈣，一個(gè)硬脂酸，還有一個(gè)介于兩者之間，就是硬脂酸跟碳酸鈣結(jié)合的部分，這樣可以根據(jù)這部分分解溫度和含量來(lái)考察包覆，該方法結(jié)果較為準(zhǔn)確，但是實(shí)驗(yàn)周期長(zhǎng)；

XPS 是另外一種分析材料表面的方法，信號(hào)來(lái)源厚度 ＜10nm，對(duì)于材料表面可以有非常靈敏的響應(yīng)，可以顯示出材料表面的元素信息，并依據(jù)得到的譜圖上對(duì)應(yīng)峰面積進(jìn)行半定量分析。但是應(yīng)用于粉體包裹率計(jì)算，信號(hào)來(lái)源淺，誤差大，測(cè)試效率低。

高清的顆粒圖像，高效的處理速度，準(zhǔn)確的統(tǒng)計(jì)結(jié)果，看似矛盾的工作，對(duì)于飛納電鏡來(lái)說(shuō)就變得輕而易舉。那么，飛納電鏡是如何做到的呢？