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掃描電鏡原位拉伸壓縮試驗應(yīng)用案例

 發(fā)布時間:2019/5/14 點擊量:2074
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詳細介紹:

掃描電鏡中拉伸臺是常見的原位材料力學(xué)性能分析選配件(圖1),主要用于形變或斷裂微區(qū)分析,可以實時觀察到裂紋開裂過程,對于材料斷裂機理研究非常有幫助。

 

飛納電鏡工程師在原位拉伸試驗中進行多次探索,做出非常多有意思的結(jié)果,幫助科研人員從微觀解讀和認識材料的開裂、失效機制,并進一步對材料進行提升。這些材料包括金屬、皮革、薄膜材料、橡膠等。(見“掃描電鏡中的原位拉伸臺應(yīng)用實例”一文)

 

在這些試驗中,不僅可以記錄、拍攝樣品斷裂瞬間的形貌特征,還可以實時控制樣品在拉伸過程中的應(yīng)變量(ε)、應(yīng)變速度(?)、疲勞試驗循環(huán)次數(shù)(N)等物理量,并通過力學(xué)傳感器實時讀取加載在樣品表面上的力,繪制應(yīng)力應(yīng)變曲線,從多個維度對樣品屬性進行探究。

圖一:飛納電鏡拉伸臺

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